主要参数： ·半导体器件高精度测量 -上限达2000v或电流到10a的源（370a） -上限到3000v（371a） -上限到220w（370a） -上限到400a（371a） -1na的测量分辨率 -上限到3000w（371a） ·上限到2mv的测量分辨率（370a） ·波形对比 ·包络显示 ·波形平均 ·点光标（370a） ·kelvin传感测量 ·全程控 ·ms-dos兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用 应用 手动或自动进行半导体高分辨率dc参数测量 来料检查 生产测试 过程监视及质量控制 数据报告的生成 元件配对 失效分析 工程测试 交互式程控 所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或gpib来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370a的非 易失存储器、内置的ms-dos兼容的软盘或到外部控制器。